半導體四探針電阻率測試儀方阻儀 可根據不同材料特性需要,有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜(ITO膜)、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。
全國統(tǒng)一服務電話
0755-23352342電子郵箱:kezheng18@163.com
公司地址:深圳市寶安區(qū)新橋街道新橋社區(qū)中心路卓越時代大廈603室
業(yè)務咨詢微信